光學(xué)外差微振動(dòng)測量裝置特長/用途
?光學(xué)外差微振動(dòng)測量裝置特長/用途
高剛性外殼即使在桌面上也能精確測量 200MHz 振動(dòng)
能夠測量垂直(面外)振動(dòng)和橫向(面內(nèi))振動(dòng)
易于操作的顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)和直觀的信號輸出
可通過軟件進(jìn)行振動(dòng)分析、動(dòng)畫等(可選)
MEMS器件、晶體諧振器、SAW器件等的振動(dòng)分析
?光學(xué)外差微振動(dòng)測量裝置特長/用途
高剛性外殼即使在桌面上也能精確測量 200MHz 振動(dòng)
能夠測量垂直(面外)振動(dòng)和橫向(面內(nèi))振動(dòng)
易于操作的顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)和直觀的信號輸出
可通過軟件進(jìn)行振動(dòng)分析、動(dòng)畫等(可選)
MEMS器件、晶體諧振器、SAW器件等的振動(dòng)分析